File:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x.png
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Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x.png （768 × 576 像素，檔案大小：650 KB，MIME 類型：image/png）
摘要
| 描述 |
Title: Dislocations in Si crystal, orientation 111
|
| 日期 | 2005年9月13日 (原始上傳日期) |
| 來源 | No machine-readable source provided. Own work assumed (based on copyright claims). |
| 作者 | No machine-readable author provided. Twisp assumed (based on copyright claims). |
授權條款
|
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檔案歷史
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| 日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 使用者 | 備註 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 目前 | 2005年9月13日 (二) 00:15 | | 768 × 576（650 KB） | Twisp | * Title: Dislocations in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of dislocations. * Autho |
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