光学解析度

光学解析度^[1]是用来描述光学成像系统解析物体细节的能力。

最为世人所接受的解析度准则是由英国瑞利爵士所提出的瑞利判别准则（Rayleigh criterion），当两个等强度且不相干的光狭缝亮纹互相靠近而快要重叠时，两者的光强度叠加之后，中心处亮暗纹的光强度比最亮处的光强度小一些，减小成为约 81% （ ${\frac {8}{\pi ^{2}}}\approx 81.14\%$ ），如此，恰好可以判断出来是来自于两个不同的光狭缝。^[1]