磁滞现象
磁滞现象是指铁磁性材料(例如:铁)在磁化和去磁过程中,铁磁质的磁化强度不仅依赖于外磁场强度,还依赖于原先磁化强度的现象。 当外加磁场施加于铁磁质时,其原子的偶极子按照外加场自行排列。即使当外加场被撤离,部分排列仍保持:此时,该材料被磁化。 一旦被磁化了,其磁性会继续保留。要消磁的话,只要施加相反方向的磁场就可以了。这亦是硬碟的记忆运作原理。
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/c/c3/StonerWohlfarthMainLoop.svg/400px-StonerWohlfarthMainLoop.svg.png)
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/c/c7/B-H_loop.png/400px-B-H_loop.png)
在铁磁质中,磁场强度(H)和磁感应强度(B)之间的关系是非线性的。如果在增强场强条件下,此二者关系将呈曲线上升到某点,到达此点后,即使场强H继续增加,磁感应强度B也不再增加。该情况被称为磁饱和(magnetic saturation)。[1]
如果此时磁场线性降低,该线性关系将以另一条曲线返回到0场强的某点,该点的B将被初始曲线的磁感应强度量BR叫做剩磁感应强度或剩磁(remnant flux density)[2] 相抵消。
如果绘制以外加磁场的全部强度的二者关系图,将为S形的回路。S的中间厚度描述了磁滞量,该量与材料的矫顽力[3] 相关。
该现象的实际影响可为,例如,当通过磁芯的外加电流被撤离,由于残留磁场继续吸引电枢,而引起滞后从而延迟磁能的释放。
![](http://images.weserv.nl/?url=//upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/3/3f/Hysteresiscurve.svg/200px-Hysteresiscurve.svg.png)
对于一种特殊材料,该曲线会影响一个磁路的设计。
为了最小化该影响和减小相关的能量损失,从而采用具有低矫顽力和低迟滞损失的铁磁性物质,例如坡莫合金(铁镍合金,透磁合金)[4]。
在很多应用中,由回路中不同点驱动产生的小的迟滞回路存在于B-H层中。接近原点的各回路有一个较大的µ(磁导率)[5]。回路越小,其磁性形状越柔和。一个特例就是,用一个降低的交流电场去磁化任何材料。
物理起源
磁滞现象模型
应用
铁磁体中的磁滞现象可作各种不同的应用。磁带、硬碟和信用卡都利用了铁磁体中的磁滞现象来作数据的储存。在这些材料中,很显然一个磁极代表一个比特(bit),如北极代表1而南极代表0。然而,更换该存储器从一个到另一个,此迟滞作用要求了解已存信息,因为所需的场强在每种情况下都会不同。为了解决该问题,记录系统首先使用带偏移程序过速驱动整个系统到一个已知状态。模拟电磁记录同样适用这种技术。不同材料要求不同的偏移量,这就是为什么在大多数卡式录音带前端都有一个选择装置(写保护)。
参考书目
- ^ Arthur Eugene Fitzgerald, Charles Kingsley, Stephen D. Umans. Electric machinery. McGraw-Hill Professional. 2002: 230. ISBN 0824742699.
- ^ Joao Bastos, Nelson Sadowski. Electromagnetic modeling by finite element methods. CRC Press. 2003: 91. ISBN 0073660094.
- ^ Masud Mansuripur. The Physical Principles of Magneto-Optical Recording. Cambridge University Press. 1998: 586. ISBN 0521634180.
- ^ 田民波. 磁性材料. 清华大学出版社. 2001: 68. ISBN 7302040842.
- ^ Joao Bastos, Nelson Sadowski. Electromagnetic modeling by finite element methods. CRC Press. 2003: 31. ISBN 0073660094.
- Isaak D. Mayergoyz, Mathematical Models of Hysteresis and their Applications: Second Edition (Electromagnetism), Academic Press, 2003.