彼得·B·赫希

彼得·B·赫希爵士 FRS (英語:Sir Peter Bernhard Hirsch,1925年1月16日),英國材料科學家,對電子顯微鏡的發展作出了根本性貢獻。[1]

彼得·B·赫希爵士
Sir Peter B. Hirsch
出生(1925-01-16)1925年1月16日
柏林
母校劍橋大學
知名於透射電子顯微鏡
物理學
獎項富蘭克林獎章 (1970)
沃爾夫物理學獎 (1983/4)
俄羅斯科學院羅蒙諾索夫金質獎章(2005)
科學生涯
研究領域材料科學
機構牛津大學

生平

赫希畢業於Sloane School以及劍橋大學聖凱瑟琳學院。1946年他加入卡文迪許實驗室的晶體部門。後來,他對於煤炭結構的分析做出了重要貢獻。

在1950年代他創新地將透射電子顯微鏡 (TEM)應用於金屬,發展了詳細的掃描技術理論。在1965年他和Archibald Howie, M.J. Whelan, Pashley and Nicholson,發表了晶體電子顯微的文章。[2]

後來赫希在牛津大學任講席教授,1992年退休。他創建了牛津大學的材料科學系。

因為他促進電子顯微鏡的發展,以研究晶體物質的結構,赫希1983年獲沃爾夫物理學獎。1963年當選皇家學會院士,1975年封為騎士。赫希也是牛津大學聖艾德蒙學堂成員之一。

參考

  1. ^ Oxford Materials - Personal Homepages. [2010-12-20]. (原始內容存檔於2016-08-24). 
  2. ^ P. Hirsch, A. Howie, R. Nicholson, D. W. Pashley and M. J. Whelan (1965/1977) Electron microscopy of thin crystals (Butterworths/Krieger, London/Malabar FL) ISBN 0-88275-376-2