本徵半導體
未摻入雜質的半導體
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本徵半導體（英語：intrinsic semiconductor）又稱本質半導體、無雜質半導體、純半導體、I型半導體，是指沒有外摻雜（未摻入雜質）且晶格完整的純淨晶體半導體，其參與導電的自由電子（帶負電荷的載子）和電洞（空穴，帶正電荷的載子）的濃度相等且處於平衡狀態。此處「本徵」表明能顯示此半導體物質本身的特徵。
相對於本質半導體，摻入雜質（doping）而含有雜質的半導體叫做雜質半導體（Extrinsic semiconductor）。
參考來源
- 文獻
- Muller, Richard S.; Theodore I. Kamins. Device Electronics for Integrated Circuits 2d. New York: Wiley. 1986. ISBN 978-0-471-88758-4.
- Sze, Simon M. Physics of Semiconductor Devices（2nd ed.）. John Wiley and Sons（WIE）. 1981. ISBN 978-0-471-05661-4.
- 上冊：施敏; 伍國珏; 譯者：張鼎張、劉柏村. 半導體元件物理學(上冊). 臺灣: 國立交通大學. 2008-08-01 [2008]. ISBN 978-986-843-951-1 （中文）. （繁體中文）
- 下冊：施敏; 伍國珏; 譯者：張鼎張、劉柏村. 半導體元件物理學(下冊). 臺灣: 國立交通大學. 2009-04-14 [2009]. ISBN 978-986-843-954-2 （中文）. （繁體中文）
- Turley, Jim. The Essential Guide to Semiconductors. Prentice Hall PTR. 2002. ISBN 978-0-13-046404-0.
- Yu, Peter Y.; Cardona, Manuel. Fundamentals of Semiconductors : Physics and Materials Properties. Springer. 2004. ISBN 978-3-540-41323-3.
- Neamen, Donald A. Semiconductor Physics and Devices: Basic Principles (3rd ed.). McGraw-Hill Higher Education. 2003. ISBN 0-07-232107-5.
- 引用