雷射誘導擊穿光譜

雷射誘導擊穿光譜(英語:Laser-induced breakdown spectroscopyLIBS) 技術通過超短脈衝雷射聚焦樣品表面形成電漿,進而對電漿發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量[1][2]。超短脈衝雷射聚焦後能量密度較高,可以將任何物態(固態、液態、氣態)的樣品激發形成電漿,LIBS技術(原則上)可以分析任何物態的樣品,僅受到雷射的功率以及攝譜儀&檢測器的靈敏度和波長範圍的限制。再者,幾乎所有的元素被激發形成電漿後都會發出特徵譜線,因此,LIBS可以分析大多數的元素。如果要分析的材料的成分是已知的,LIBS可用於評估每個構成元素的相對豐度,或監測雜質的存在。在實踐中,檢測極限是:a)電漿激發溫度英語Excitation temperature的函數,b)光收集窗口,以及c)所觀查的過渡譜線的強度。LIBS利用光學發射光譜,並且是該程度非常類似於電弧/火花發射光譜。

laser」的各地常用譯名
中國大陸激光
臺灣雷射、鐳射
香港激光、雷射、鐳射
星馬激光、鐳射、雷射
LIBS系統示意圖

LIBS在技術上是非常相似的一些其它基於雷射的分析技術,共享許多相同的硬體。這些技術是拉曼光譜學振動光譜技術雷射誘導螢光英語Laser-induced fluorescence(LIF)的螢光光譜技術。實際上,現在設備已經被製造成在單個儀器中結合這些技術,允許樣品原子的,分子的和結構的特徵研究,以給予物理性質的一個更深入的了解。

硬體構成

1064nm Nd:YAG脈衝雷射器,脈寬約為10ns,經聚焦後能量密度達到1GW/cm2

光譜儀包括分光部分和光電轉換模塊。

參閱

參考文獻

  1. ^ Radziemski, Leon J.; Cremers, David A. Handbook of laser-induced breakdown spectroscopy. New York: John Wiley. 2006. ISBN 0-470-09299-8. 
  2. ^ Schechter, Israel; Miziolek, Andrzej W.; Vincenzo Palleschi. Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS): fundamentals and applications. Cambridge, UK: Cambridge University Press. 2006. ISBN 0-521-85274-9.